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使用真密度測定儀測試后的心得體會(huì )真密度測定儀應用阿基米德（密度＝質(zhì)量/體積）原理，將傳統的比重瓶法測試介質(zhì)改為小分子惰性氣體，利用波義耳-馬略特定律，計算出樣品的不可透過(guò)體積，求出其相對密度，并可進(jìn)行多孔材料的孔率分析，測試硬質(zhì)泡沫塑料開(kāi)孔與閉孔體積百分率。全自動(dòng)微處理器控制，測試原理基于氣體膨脹法，能快速測定粉體和塊狀固體的真密度，測試準確度高，重現性好。真密度測定儀針對粉末真密度，設備*依照ASTM、GB/T、DIN、JIS、ISO標準，根據阿基米得的體積置換法為加以研究...

鎖相放大器不容易受到噪聲影響的原因，是因為很好地利用了噪聲（白噪聲）與目的信號（正弦波）之間在性質(zhì)上的差別。在這里，我們一方面整理白噪聲的性質(zhì)和正弦波的性質(zhì)，一方面解說(shuō)為什么鎖相放大器會(huì )具有很強的噪聲抑制能力。1、平坦的頻譜在寬闊的頻率范圍內，該信號具有幾乎相同的頻譜。信號的瞬時(shí)電平成為預測不到的隨機的值。2、隨著(zhù)頻帶寬度不同測量電壓會(huì )改變在用毫伏計測量白噪聲時(shí)，得到的測量值和白噪聲所具有的頻譜帶寬（BandWidth：B.W.）的平方根以及電平成比例。測量得到的電壓值，與下...

由于樣品臺的限制，SEM樣品必須足夠小，同時(shí)可能需要特殊的預處理來(lái)增加樣品的電導率和穩定性，以便樣品能夠承受高真空條件和高能電子束的轟擊。通常使用導電膠將樣品牢固地安裝在樣品臺或短柱上。SEM被廣泛用于半導體晶片的缺陷分析，制造商制造出可以檢查尺寸為300mm的半導體晶片的任何部位的儀器。許多儀器都有著(zhù)可以將該尺寸的物體傾斜45°并提供連續360°旋轉的腔室。一些生物樣品不使用導電材料涂層，而是通過(guò)使用不同的OTO染色方法浸漬鋨來(lái)增加材料的整體電導率。當原始樣品因方法限制或法...

EPR（電子順磁共振波譜）是一種磁共振光譜，用于檢測未配對（或“自由”）電子。EPR的物理原理與核磁共振相似，但EPR測量的是未配對的電子，而不是質(zhì)子或其它核自旋。EPR主要檢測自由基、晶格缺陷、過(guò)渡金屬與稀土金屬離子和三重態(tài)分子。下面來(lái)一起了解下EPR（BrukerEMXPlus)，市面上新、使用率較高的儀器。EPR主要由微波橋、電磁鐵、諧振腔、微波橋供電箱和磁鐵供電箱組成。微波橋是提供合適頻率的電磁波，電磁鐵是提供磁場(chǎng)，樣品放在諧振腔中。原理：樣品中的電子在外磁場(chǎng)中只有兩...

影響掃描電鏡（SEM）的四個(gè)基本要素掃描電子顯微鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀(guān)形貌觀(guān)察方法它可以直接利用樣品表面材料的材料特性進(jìn)行顯微成像一，放大倍數較高，可連續調整20至20萬(wàn)倍；二，景深大，視野大，成像立體感強可直接觀(guān)察各種樣品不均勻表面的細微結構；三，試樣制備簡(jiǎn)單。影響掃描電鏡的分辨本領(lǐng)的主要因素有：A.入射電子束光斑直徑：掃描電鏡分辨能力的極限一般來(lái)說(shuō)，熱陰極電子槍的最小束斑直徑可以減小到6nm，場(chǎng)發(fā)射電子槍可以使束斑直徑小于3nmB.入射電子束...